DSC-500AOIT差示掃描量熱儀(氧化誘導(dǎo)型）氧化誘導(dǎo)時(shí)間分析儀

前言：

氧化誘導(dǎo)期(OIT)是測(cè)定試樣在高溫(200攝氏度)氧氣條件下開始發(fā)生自動(dòng)催化氧化反應(yīng)的時(shí)間，該試驗(yàn)

是評(píng)價(jià)材料在成型加工、儲(chǔ)存、焊接和使用中耐熱降解能力的指標(biāo)。測(cè)試氧化誘導(dǎo)期(簡(jiǎn)稱OIT)方法是一種采用差熱分析法(DTA)以塑料分子鏈斷裂時(shí)的放熱反應(yīng)為依據(jù)，測(cè)試塑料在高溫氧氣中加速老化程度的方法。其原理是:將塑料試樣與惰性參比物(如氧化鋁)置于差熱分析儀中，使其在一定溫度下用氧氣迅速置換試樣室內(nèi)的惰性氣體(如氨氣)。測(cè)試由于試樣氧化而引起的DTA曲線(差熱譜)的變化，并獲得氧化誘導(dǎo)期(時(shí)間)0IT(min)，以評(píng)定塑料的防熱老化性能。

概述

　　國NEI SHOU創(chuàng)專用氧化誘導(dǎo)期測(cè)試儀，內(nèi)嵌10.1寸安卓工控電腦，無需連接電腦，一鍵式操作測(cè)試氧化誘導(dǎo)期和熔點(diǎn)，自動(dòng)生成氧化誘導(dǎo)期圖譜，可接打印機(jī)打印報(bào)告圖譜。自動(dòng)氧化誘導(dǎo)期操作結(jié)束后儀器蜂鳴提示，過程無需人員看管，簡(jiǎn)單高效。符合國標(biāo)GB/T2951.42-2008、GB/T15065-2009、GB/T17391-1998、GB/T19466-2009,IEC60811-4-2:2004、GB/T19466.6-2009。

氧化誘導(dǎo)時(shí)間分析儀技術(shù)特點(diǎn)

1、10.1寸工業(yè)級(jí)別的寬屏觸摸結(jié)構(gòu)，顯示信息豐富，包括設(shè)定溫度，樣品溫度，氧氣流量，氮?dú)饬髁浚顭嵝盘?hào)，各種開關(guān)狀態(tài)。

2、直接連接打印機(jī)打印報(bào)告圖譜和溯源報(bào)告。

3、爐體結(jié)構(gòu)緊湊，升降溫速率任意可調(diào)。

4、改善了安裝工藝，全部采用機(jī)械固定方式，WAN全避免爐體內(nèi)部膠體對(duì)差熱信號(hào)的污染。

5、雙溫度探頭，保證樣品溫度測(cè)量的高度重復(fù)性。

6、自動(dòng)切換兩路氣流量，切換速度快，穩(wěn)定時(shí)間短。

7、標(biāo)配標(biāo)準(zhǔn)樣品，帶自動(dòng)溫度校準(zhǔn)功能。

8、內(nèi)嵌工控電腦，無需連接電腦，直接測(cè)試氧化誘導(dǎo)期時(shí)間和熔點(diǎn)。

9、可用U盤導(dǎo)出氧化誘導(dǎo)期測(cè)試圖譜和熔點(diǎn)測(cè)試圖譜。

10、PC機(jī)軟件自適應(yīng)各種分辨率電腦屏幕；支持筆記本，臺(tái)式機(jī)，支持WIN2000、XP、WIN7、WIN8、WIN10等操作系統(tǒng)。

11、可以設(shè)置三級(jí)賬戶，具有溯源記錄和查找功能。

技術(shù)參數(shù)

1. DSC量程:    0～±200mW/0～±500mW

2. 溫度范圍: 　  室溫～500℃   

3. 升溫速率:   0.1～80℃/min

4. 溫度分辨率:   0.01℃

5. 溫度波動(dòng):   ±0.1℃

6. 溫度重復(fù)性:   ±0.1℃

7. DSC噪聲:    0.001mW

8. DSC解析度:   0.001mW

9. DSC精確度:   ±2%

10.DSC靈敏度:   0.001mW

11.控溫方式:   升溫、恒溫、降溫、循環(huán)（全程序自動(dòng)控制）

12.曲線掃描:   升溫掃描

13.氣氛控制:   自動(dòng)切換氮?dú)庋鯕?/span>

14.顯示方式:   24bit色，10.1寸 工控電腦

15.數(shù)據(jù)接口:   標(biāo)準(zhǔn)USB接口、RS232

16.參數(shù)標(biāo)準(zhǔn):   配有標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，一鍵溫度校準(zhǔn)

符合標(biāo)準(zhǔn)：

專為塑料、橡膠行業(yè)測(cè)量氧化誘導(dǎo)期設(shè)計(jì)，氧化誘導(dǎo)期熱穩(wěn)定實(shí)驗(yàn)適用于國標(biāo)GB/T17391-1998,GB/T2951.42-2008,GB/T15065-2009，GB/T19466-2009,IEC60811-4-2:2004

氧化誘導(dǎo)期測(cè)試曲線：

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